| Autores |
|---|
| Ramírez Mejía Ivan |
| Batyrshin Ildar |
| Título | Análisis de propiedades de medidas de similitud con atributos binarios |
| Tipo | Revista |
| Sub-tipo | Indefinido |
| Descripción | Research in Computing Science |
| Resumen | El presente trabajo propone extender la visión basada en teoría de conjuntos sobre medidas de similitud en objetos con atributos binarios y que también pueden ser presentados en forma de tabla de contingencia. Se analiza las propiedades de diferentes medidas de similitud lo cual permite clasificarlas. |
| Observaciones | |
| Lugar | Ciudad de México |
| País | Mexico |
| No. de páginas | 117-124 |
| Vol. / Cap. | v. 116 |
| Inicio | 2016-05-14 |
| Fin | |
| ISBN/ISSN |